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明亮的近地天地系列變得輕盈和新出現! 通過使用半球形的內表面反射照射均勻的漫射光,可以獲得均勻的圖像,沒有陰影,抑制在直射光(如不均勻和光澤表面)中可能發生的光暈。 具有曲面和臺階的工件可以捕獲為平面圖像。 與IDDA-KH系列相比,重量減輕了MAX40%。 它非常適合用于機器人視覺,由于重量輕,攜帶重量有限。
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從 IHM 進一步演變的高亮度透射照明 芯片式透射照明,價格低,輸出大,重量輕。 型號陣容包括 5 種尺寸,從小到大,方形近似形狀,以及 4 種尺寸的矩形形狀,共 9 種尺寸。 發光顏色為白色、紅色和藍色。
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薄、節能的均勻表面發光照明 表面照明厚度為 7.2 至 8.2 mm。 能夠在寬度方向上*大限度地取得發光區域, 即使在設備等較窄的區域,也可以確保較寬的發光區域。 它可用于各種外部檢查作為背光照明。 如果 IFLB 系列中的亮度不足, 考慮高亮度芯片 LED 表面照明 IHMA 系列和 IDHM 系列。
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明亮的近地天地系列變得輕盈和新出現! NEO 環照明,在平面上安裝電源 LED。 由于其方向性廣泛,可以照亮比傳統產品更寬的區域,因此非常適合大型工件檢測。 與 IHRA 系列相比,重量減輕了 MAX20%。 它非常適合用于機器人視覺,由于重量輕,攜帶重量有限。
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根據檢測目的自由混合發光顏色 在一臺照明中復合安裝紅色、藍色和綠色 LED。 紅、藍、綠三波長復合,成為可見光的全彩照明,可覆蓋非常寬的波長范圍。 由于可以獨立調光每個波長,因此可以實現微妙的復合照明顏色。
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根據檢測目的自由混合發光顏色 在一臺照明中復合安裝紅色、藍色和綠色 LED。 紅、藍、綠三波長復合,成為可見光的全彩照明,可覆蓋非常寬的波長范圍。 由于可以獨立調光每個波長,因此可以實現微妙的復合照明顏色。
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模擬同軸圓頂輻照 同軸投影照明與反射圓頂照明集成。 圓頂形狀的多角度照明+同軸落射照明的正反射也使立體工件 可均勻照射。 圓頂照明和同軸投影照明允許單獨的調光。
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模擬同軸投影照明,實現高照度、高均勻性、緊湊的外殼 半鏡可以照射到與相機軸相同的軸上。 與 IFVA 系列相比,半鏡的改進大大提高了分辨率。 由于可以進行正反射檢查,因此對表面細劃痕的檢查、打印和字符檢查有效。 可用于各種應用,如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
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直模擬同軸落射照明,實現高光、高均勻度和緊湊的外殼 使用半透半反鏡,可以在垂直于攝像機軸的軸上進行照射和成像。 與 IFVA 相比,在高度方向上的空間更少,從而節省空間。 由于可以進行正反射檢查,因此對表面細劃痕的檢查、打印和字符檢查有效。 可用于各種應用,如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
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實現驚人的亮度 線傳感器攝像機照明,在自然空氣冷卻下提供業界**的光量。 提供兩種類型:高亮度類型(IDBC-LSR 系列)和高均勻類型(IDBC-LSR-S 系列:90 萬 lx),可廣泛漫射光。 注)所發布的照度為參考值,不保證產品。 尺寸為高亮度型/高均勻型,以100mm為單位,系列尺寸可達1,500mm
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B'C 線照明 IDBA-LE 系列的環形照明,適用于各種應用,如大型工件的打印檢測。 與 B'C 線照明一樣,我們提供兩種配光特性,以滿足您的應用需求。 由于其設計具有抗振動和抗沖擊性,因此可以安裝在機器人臂等移動部件上。
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比可見光更清晰的檢測 非常適合在可見光下進行精細劃痕測試,使用熒光粉激發檢查膠粘劑的涂層狀態,以及檢查灰塵和其他異物。 波長包括365nm、375nm、405nm等多個波長。 除了此列表外,還提供波長。 也可以生產與可見光形狀相同的輻照。 UV-405NR 的峰值波長為 405nm,即使在可見光攝像機中也具有靈敏度,因此無需提供昂貴的紫外相機和鏡頭。
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比可見光更清晰的檢測 非常適合在可見光下進行精細劃痕測試,使用熒光粉激發檢查膠粘劑的涂層狀態,以及檢查灰塵和其他異物。 波長包括365nm、375nm、405nm等多個波長。 除了此列表外,還提供波長。 也可以生產與可見光形狀相同的輻照。 UV-405NR 的峰值波長為 405nm,即使在可見光攝像機中也具有靈敏度,因此無需提供昂貴的紫外相機和鏡頭。
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比可見光更清晰的檢測 非常適合在可見光下進行精細劃痕測試,使用熒光粉激發檢查膠粘劑的涂層狀態,以及檢查灰塵和其他異物。 波長包括365nm、375nm、405nm等多個波長。 除了此列表外,還提供波長。 也可以生產與可見光形狀相同的輻照。 UV-405NR 的峰值波長為 405nm,即使在可見光攝像機中也具有靈敏度,因此無需提供昂貴的紫外相機和鏡頭。